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KT-20是一款手持式儀器，具有不同的測量模塊，可測量樣品的磁化率，電導率，極化率和電阻率以及密度。其模塊化設計使KT-20具有多種測量功能配置，并且可以隨時添加新模塊或升級。KT-20提供一系列具有不同形狀和頻率的傳感器。用戶可以在儀器上互換傳感器，使KT-20能夠適應不同尺寸和類型的樣品，應用于各種場景。KT-20 儀器包含許多內置功能，除去常規功能外，其他功能還包括： GPS接收器，拍攝樣品的數碼相機，記錄語音注釋的麥克風以及用于輸入文本注釋的虛擬鍵盤等。

Orbis系列微束X射線熒光光譜儀對不規則及不導電的大樣品進行無損檢測，樣品無需鍍膜。通過光學顯微鏡引導，激光定位輔助進行原位微區分析，在低真空或大氣環境中性能穩定，更好的分析檢測限，測量從Na到BK的元素，能有高精度、高靈敏度的定性及定量分析結果。

SisuROCK是芬蘭SPECIM公司專門針對巖芯以及其它地質礦石樣品開發的高速推掃式高光譜成像分析工作站，設備操作簡單，自動化程度高，具有對單個巖芯以及整箱巖芯進行高速高光譜數據采集的模式，非常適合地質礦產用戶的應用。SisuROCK配備了SPECIM公司的高性能的高光譜相機，可以對地質產品進行快速的高光譜數據收集。SisuROCK不僅可以作為一種高效率、高吞吐量的生產工具在礦業生產中廣泛使用，也可以作為一種功能強大且靈活的分析手段應用到地質研究領域。

TIMA綜合礦物分析系統是基于SEM的巖石礦物全自動化定量分析系統，能同時進行高分辨率的背散射（BSE）與X射線能譜（EDX）快速成像，并配備專業的礦物處理軟件輔助分析結果和生成報告。TIMA可以對巖石、礦石、巖屑、精礦、尾礦、浸出渣或冶煉產品等進行快速定量礦物分析，能高效識別巖石類型、礦物種類、測量礦物含量、分布、顆粒大小、解離或鎖定各種參數。

Itrax XRF Scanners是專為地質勘探設計的快速、無損、連續測量全巖芯XRF元素綜合分析系統

MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發射電子槍，在TESCAN 的 Essence? 操作軟件的同一個窗口中實現了 SEM 成像和實時元素分析。這種結合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數據的過程，從而使得MIRA 成為質量控制、失效分析和實驗室常規材料檢測的有效分析解決方案。 MIRA 具有創新的光學設計，確保在需要時可以隨時無縫地選擇成像或分析條件，而無需對鏡筒內的任何元件重新進行機械對中；借助完全集成的 Essence? EDS 軟件，可以快速、輕松地從成像切換到分析操作模式，一鍵即可實現設置參數的更改。

RISE拉曼-電鏡一體化系統(Raman Imaging and Secondary Electron microscopy)可基于TESCAN所有型號的電鏡平臺，既可分別實現超高放大倍率的納米級成像和化合物分子拉曼譜圖分析，又可同時完成BSE和拉曼2D、3D原位疊加圖像。多角度檢測分析方式集成同一平臺，強大的礦物數據庫分析系統，快速比對峰位譜圖信息識別礦物并生成報告。樣品制備要求低，RISE高分辨率快速無損的微區原位分析，已廣泛應用于地質、石油、煤炭、石墨烯等應用方向。

這是一款切割超長巖芯的專用設備，特制的刀具能自動，快速，高效地切割超長大型巖芯樣品，在不破壞巖心整體原有特性的情況下，可切割的巖心長度可達1至1.5米，切面十分平滑。

這是一款切割超長巖芯的專用設備，特制的刀具能自動，快速，高效地切割超長大型巖芯樣品，在不破壞巖心整體原有特性的情況下，可切割的巖心長度可達1至1.5米，切面十分平滑計可平整光潔地切剖完成全直徑巖心的切剖工作，并不破壞巖心整體特性。